產(chǎn)品參數(shù)

一、硬件參數(shù)指標

1.?恒電位電位控制范圍：±10V

2.?恒電流控制范圍：±2.0A

3.?電位控制精度：0.1%@Fullscale±1mV

4.?電流控制精度：0.1%@Fullscale

5.?電位分辨率：10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz)

6.?電流靈敏度：1pA

7.?電位上升時間：<1mS(<10mA), <10mS(<2A)

8.?參比電極輸入阻抗：1012W||20pF

9.?電流量程：2nA～2 A ， 共10檔

10.?槽壓：±21V

11.?最大輸出電流：2.0A

12.?CV 和LSV掃描速度：0.001mV～10V/s

13.?CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s

14.?電流掃描增量：1mA @1A/mS

15.?電位掃描時電位增量：0.076mV @1V/mS

16.?SWV頻率：0.001～100KHz

17.?DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s

18.?AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz, 20bit @1KHz

19.?DA分辨率：16bit, 建立時間：1mS

20.?CV的最小電位增量：0.075mV

21.?IMP頻率：10mHz~1MHz

22.?低通濾波器：8段可編程

23.?電流與電位量程：自動設(shè)置

24.?接口通訊模式：USB2.0

二、電化學阻抗功能指標信號發(fā)生器：

1.?頻率響應(yīng)：10mHz~1MHz

2.?頻率精確度：0.005%

3.?交流信號幅值：1mV~2500mV

4.?信號分辨率：0.1mV RMS

5.?直流偏壓：-10~+10V

6.?DDS輸出阻抗：50W

7.?波形：正弦波，三角波，方波

8.?正弦波失真：<1%

9.?掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降

10.?信號分析器：

11.?最小積分時間：10mS 或者循環(huán)的最長時間

12.?最大積分時間：106個循環(huán)或者105S

13.?測量時間延遲：0~105秒

14.?直流偏置補償：

15.?電位自動補償范圍：-10V~+10V

16.?電流補償范圍：-1A~+1A

17.?帶寬調(diào)整(Bandwidth) ：

18.?自動或手動設(shè)置，共8級可調(diào)

三、CorrTest測量與控制軟件主要功能

1.?穩(wěn)態(tài)極化：開路電位測量（OCP）、恒電位極化（I-t曲線測試)、恒電流極化、動電位掃描（TAFEL曲線）、動電流掃描（DGP）

2.?暫態(tài)極化：任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、多電位階躍（VSTEP）、多電流階躍（ISTEP）

3.?計時分析：計時電位法（CP）、計時電流法（CA）、計時電量法（CC）

4.?伏安分析：線性掃描伏安法（LSV）#、線性循環(huán)伏安法（CV）

5.?交流阻抗：電化學阻抗（EIS）～頻率掃描、電化學阻抗（EIS）～時間掃描、電化學阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線）、恒電流阻抗測試

6.?腐蝕測量：動電位再活化法（EPR）、電化學噪聲（EN）、電偶腐蝕測量（ZRA）、氫擴散測試、晶間腐蝕測量

7.?電池測試：電池充放電測試、恒電流充放電、恒電流滴定GITT、恒電位滴定PITT

8.?其他：圓盤電極測試及轉(zhuǎn)速控制、溶液電阻測量（IR降）、溶液電阻正反饋補償（IR補償）